Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Książka

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

  • Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
  • Rok wydania: 2023
  • ISBN: 9788301232962
  • Ilość stron: 450
  • Format: 16.5x23.5cm
  • Oprawa: Twarda
Wysyłka:
1 - 3 dni robocze + czas dostawy*Przy zamówieniu większej ilości egzemplarzy czas realizacji zamówienia może ulec wydłużeniu
Cena katalogowa 119,00 PLN brutto
Cena dostępna po zalogowaniu
Dodaj do Schowka
Zaloguj się
Przypomnij hasło
×
×
Cena 119,00 PLN
Dodaj do Schowka
Zaloguj się
Przypomnij hasło
×
×

Opis: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.


Szczegóły: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak

Tytuł: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Podtytuł: Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Autor: Stanisław Adamczak
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
ISBN: 9788301232962
Języki: polski
Rok wydania: 2023
Ilość stron: 450
Format: 16.5x23.5cm
Oprawa: Twarda


Recenzje: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak

Zaloguj się
Przypomnij hasło
×
×