Opis: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Szczegóły: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak

Tytuł: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Podtytuł: Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Autor: Stanisław Adamczak
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
ISBN: 9788301231583
Języki: polski
Rok wydania: 2023
Ilość stron: 450
Format: 16.5x23.5cm
Oprawa: Miękka

Recenzje: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych - Stanisław Adamczak